Profilm3D

Profilm3D

Filmetrics® Profilm3D®和Filmetrics Profilm3D-200光学轮廓仪采用白光干涉测量(WLI)技术,是经济实用的非接触式3D表面形貌测量系统。Profilm3D系列可以测量从纳米到毫米级的表面特征,并生成高分辨率3D表面数据和TotalFocus™图像(景深等于垂直扫描距离的彩色3D图像)。Profilm3D的菜单设置简单而灵活,可进行单次多点扫描或自动多点测量,非常适合研发和量产应用。

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