差异化产品的核心在于技术，而我们的工程师在开发和集成技术的过程中，每天都会面临最棘手的问题。对于我们量测部门的工程师和科学家团队而言，所面临的最棘手问题涉及到 Axion T2000 X 射线量测系统。该团队利用 X 射线的功能，改进了基于人工智能的算法并开发了专利技术，生产出可用于工厂制造的系统，以前所未有的分辨率、准确度、精确度和速度，测量高深宽比存储设备的特性。由此开发的 Axion T2000 发现了细微的 3D 形状异常（会影响先进的 3D NAND 和 DRAM 的性能），从而有助于确保存储芯片的顺利生产。