3D 광학 프로파일로미터

3D 광학 프로파일로미터

Profilm3D® 탁상형 광학 표면 형상 측정기와 Zeta 광학 표면 형상 측정기는 빠르고 쉽고 비접촉 방식으로 3차원 표면 형상 측정 솔루션을 제공합니다. 당사의 3차원 광학 표면 형상 측정기 포트폴리오는 백색광 간섭계, True Color 이미징 및 ZDot 공초점 격자 구조 조명을 포함한 다양한 측정 기술을 지원합니다. KLA Instruments는 귀사의 고유한 측정 요구 사항에 맞는 최적의 3차원 광학 표면 형상 측정기 솔루션을 안내해 드릴 수 있습니다.

Profilm3D Optical Profilometer

Filmetrics® Profilm3D® 광학 프로파일로미터

Profilm3D® 탁상형 광학 표면 형상 측정기는 백색광 간섭계, TotalFocus® 무한 심도 이미징 또는 향상된 표면 거칠기 모드를 활용하여 3차원 단차 높이, 표면 거칠기 및 기타 표면 형상을 쉽고 비접촉 방식으로 측정합니다.

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혁신의 역사

KLA Instruments 광학 표면 형상 측정기 포트폴리오의 역사는 다양한 기원에서 시작된 혁신의 이야기입니다. ADE는 MicroXAM 간섭계를 출시했습니다. Zeta Instruments는 ZDot 및 멀티 모드 광학 표면 형상 측정기를 개발했습니다. Filmetrics®는 새로운 범용 백색광 간섭계를 도입했습니다. 이러한 제품들이 함께 모여 다양한 광학 표면 형상 측정기 포트폴리오를 구성하게 되었으며, 현재는 KLA Instruments 브랜드로 통합되었습니다. 당사의 풍부한 혁신 역사와 귀하의 표면 계측 요구 사항을 지원하기 위해 당사의 도구들이 어떻게 지속적으로 발전하고 있는지에 대해 자세히 알아보십시오.

당사 제품이 어떻게 도움이 될 수 있는지 알아보십시오.

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  • KLA Instruments Logo

    장비

    KLA Instruments는 업계 전문가, 학자 및 기타 혁신가들에게 신뢰할 수 있는 계측 및 결함 검사 솔루션을 제공하여 세계의 혁신적인 기술을 가능하게 하는 측정을 제공합니다.

  • Filmetrics® 면저항 측정 시스템

    Filmetrics® 벤치탑 및 자동 면저항 매핑 장비는 수십 년에 걸쳐 거듭된 저항 측정 기술 혁신과 축적된 전문 기술을 바탕으로 개발되었습니다.

  • thin-film reflectometers

    Filmetrics® 박막 두께 측정 시스템

    The Filmetrics® 박막 반사계를 사용하면 벤치탑 및 생산 환경 모두에서 투명 박막의 두께 및 굴절률을 단 몇 초 만에 측정할 수 있습니다.

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KLA Instruments는 업계 전문가, 학자 및 기타 혁신가들에게 신뢰할 수 있는 계측 및 결함 검사 솔루션을 제공하여 세계의 혁신적인 기술을 가능하게 하는 측정을 제공합니다.

Filmetrics® 면저항 측정 시스템

Filmetrics® 벤치탑 및 자동 면저항 매핑 장비는 수십 년에 걸쳐 거듭된 저항 측정 기술 혁신과 축적된 전문 기술을 바탕으로 개발되었습니다.

thin-film reflectometers

Filmetrics® 박막 두께 측정 시스템

The Filmetrics® 박막 반사계를 사용하면 벤치탑 및 생산 환경 모두에서 투명 박막의 두께 및 굴절률을 단 몇 초 만에 측정할 수 있습니다.

 

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