우리 엔지니어들은 차별화된 제품의 핵심 기술을 개발하고 통합하는 과정에서 매일 가장 어려운 과제에 맞섭니다. 당사 계측 부문 소속 엔지니어와 과학자들은 Axion^® T2000 X선 계측 시스템 개발 과정에서 가장 어려운 문제에 직면했습니다. 이 팀은 X선 기술을 활용하고 AI 기반 알고리즘을 정교화했으며 특허 기술을 개발하여, 고종횡비 메모리 디바이스의 특성을 전례 없는 해상도, 정확도, 정밀도 및 속도로 측정하는 팹 현장 적용 가능한 시스템을 완성했습니다. 그 결과 탄생한 Axion T2000은 첨단 3D NAND와 DRAM의 성능에 영향을 줄 수 있는 미세한 3차원 형상 이상을 발견하여 메모리 칩의 성공적인 생산을 뒷받침합니다.